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半导体测试系统(含测试机)
QE-2000荧光量子效率测试系统瞬间测量绝.对量子效率。适用于粉末、溶液、固体（膜）、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域 的杂散光。
S-MPL系列显微荧光成像系统光致发光（photoluminescence）即PL，是用紫外、 可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半 导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波 长如325n...
组合荧光系统采用模块化设计，既可实现稳态、瞬态测量，又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择（光源、探测器、样品架、变温模块等），能针对研究者实验的不 同需求量身打造为...
镜头透过率测试系统测量光学镜头的光谱透过率（光学镜头透过率>10%）,镜头透过率测试系统测镜头口径：?0-?20mm，镜头长度200-600mm
漫反射率测试系统光度测量准确度：1%以内（紫外-可见区），2%以内；（近红外区）,漫反射率测试系统光度测量重复性：1% (450nm-1800nm) ；测试试样尺寸(典型)：直径大于15mm，若同时测...
S-AS系列常规样品反射、吸收系统•透射、反射 / 吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标， 我司S-AS 系列 透射、反射 / 吸收...
Photo Research成像亮度计• 美国Photo Research 公司成立于1941年，是一家专门致力于光度、色度、辐 射度测量仪器研究、生产的世界著名公司，拥有十三个自己独立的光学校准实验...
S-DR系列标准灯漫反射参考板成像光谱辐射定标系统• 光谱成像技术是一种集光学、光谱学、精密机械、电子技术及计算机技术于一体的新型遥感技术。
S-EL系列电致发光系统• EL电致发光片全名是：“ELECTROL LIMINESCENT”，简称EL。
S-ES系列常规发射光谱系统发光体，如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试，对研究其特性有很大帮助。常规发射光谱系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布，而且可 在此基础上得到积分辐射通量、光...
显微共聚焦拉曼系统-研究级自动共聚焦拉曼光谱仪是一款单路激光、紧凑型共聚焦拉曼光谱仪。其设计兼顾性能和便携性，非常适合于显微光谱的测量。共聚焦拉曼光谱仪RAMOS U120 整体优化设计，无须繁琐调试...
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